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【2h】

SOC Test-Architecture Optimization for the Testing of Embedded Cores and Signal-Integrity Faults on Core-External Interconnects

机译：sOC测试 - 架构优化，用于测试核心 - 外部互连上的嵌入式内核和信号完整性故障

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Qiang Xu; Yubin Zhang;
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年度 2010
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1. SOC Test-Architecture Optimization for the Testing of Embedded Cores and Signal-Integrity Faults on Core-External Interconnects [J] . QIANG XU, YUBIN ZHANG, KRISHNENDU CHAKRABARTY ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems . 2009,第1期

机译：SOC测试架构优化，用于测试核心-外部互连上的嵌入式核心和信号完整性故障
2. Integrated Test-Architecture Optimization and Thermal-Aware Test Scheduling for 3-D SoCs Under Pre-Bond Test-Pin-Count Constraint [J] . Jiang L., Xu Q., Chakrabarty K., Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, IEEE Transactions on . 2012,第9期

机译：在预绑定测试引脚数约束下针对3-D SoC的集成测试架构优化和热感知测试计划
3. Study on crosstalk fault model and testing for SoC inter-core interconnects [J] . Yuling Shang, Chunquan Li, Cailin Li, International journal of materials and structural integrity . 2014,第1a2a3期

机译：SoC内核互连的串扰故障模型和测试研究
4. Test-wrapper designs for the detection of signal-integrity faults on core-external interconnects of SoCs [C] . Qiang Xu, Yubin Zhang, Chakrabarty, Test Conference, 2007 IEEE International . 2007

机译：测试包装器设计，用于检测SoC内核-外部互连上的信号完整性故障
5. Modeling and testing crosstalk faults in arbitrary inter-core interconnects that include tri-state and bi-directional nets. [D] . Sirisaengtaksin, Wichian. 2007

机译：在包括三态和双向网络在内的任意内核间互连中建模和测试串扰故障。
6. A testbed for optimizing electrodes embedded in the skull or in artificial skull replacement pieces used after injury [O] . JingLe Jiang, Amar R. Marathe, Jennifer C. Keene, -1

机译：用于优化植入颅骨或受伤后使用的人工颅骨置换件中的电极的试验台
7. Test-Wrapper Designs for the Detection of Signal-Integrity Faults on Core-External Interconnects of SoCs [O] . Qiang Xu, Yubin Zhang 2009

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